光學膜厚儀的功能與特點是怎樣的

更新時間：2021-06-19

　　光學膜厚儀利用反射干涉的原理進行無損測量，可測量薄膜厚度及光學常數。測量精度達到埃級的分辯率，測量迅速，操作簡單，界面友好，是具性價比的膜厚測量儀設備。設備光譜測量范圍從近紅外到紫外線，凡是光滑的，透明或半透明的和所有半導體膜層都可以測量。

　　光學膜厚儀的功能：

　　●采用了磁性測厚方法，可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度；

　　●可采用單點校準和兩點校準兩種方法對儀器進行校準；

　　●可采用基本校準修正法對測頭系統誤差進行更新修正，保證儀器在測量過程中的準確性；

　　●負數顯示功能，保證儀器零位點校準的準確性，提高測試精度；

　　●操作過程有蜂鳴聲提示；

　　●兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式；

　　●電池電壓指示：低電壓提示；

　　●微功耗設計，在待機裝態不到10微安的電流。

　　光學膜厚儀的特點：

　　A、精美整體式設計，攜帶方便；

　　B、金屬測頭，牢固，耐磨，更穩定；

　　C、人體工程學設計，操作舒適，可精準地放置于光滑、平坦的表面之上；

　　D、測試速度快，讀數準確；

　　E、具有連續測試和單次測量兩種測量方式；連續測試減少人為誤差，讓測量值更精準；

　　F、儀器可存貯116個測量數據；

　　G、四個統計功能：大小值、平均值、測量次數，按下TA鍵即可查閱；

　　H、可以連接電腦進行通信讀出存貯數據進行保存或打印；

　　I、兩種校準方式：零點校準和二點校準；

　　J、操作過程有蜂鳴聲提示（單次測量方式）；

　　K、自動識別鐵基和非鐵基底材；

　　L、低電壓指示；

　　M、手動/自動關機功能；

　　N、高耐沖擊ABS塑料外殼制成，非常適用于油漆有粉末涂層環境。